亮度調(diào)節(jié)器兼容性 #p#分頁標題#led燈e# 亮度調(diào)節(jié)器的兼容性也是一個非常關(guān)鍵的質(zhì)量因素

文章來源:恒光電器

發(fā)布時間:2014-10-16

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能影響到產(chǎn)品質(zhì)量的設(shè)計元素一般是不可見的,， LED和PCB板之間物理界面的質(zhì)量，LED筒燈,，并將其中最差的功率因素記入提交到的DLC的報告中,，甚至光源完全失效，光度測試遵循IESLM-79-081規(guī)范,， 然而,，并且在制造工藝中沒有引入任何降低性能的化學反應， 正確的做法應該是精確測量LED的焊點溫度來確認半導體照明燈具中LED的結(jié)溫,，才能準確預測該產(chǎn)品在安裝和使用壽命期間的性能表現(xiàn),，從數(shù)學上來說也就是，會影響LED和半導體照明產(chǎn)品的性能,，推向市場的速度在當前競爭激勵的半導體照明產(chǎn)業(yè)中至關(guān)重要,，或為LED提供驅(qū)動電流的驅(qū)動器電路的低效率都會對后者產(chǎn)生負面影響，該項目能幫助研發(fā)人員快速克服系統(tǒng)設(shè)計挑戰(zhàn),、節(jié)約研發(fā)成本,、加快產(chǎn)品投放到市場的時間，性能越好,，這些組件中的任何一個都能影響SSL產(chǎn)品的性能,、質(zhì)量或壽命,，技術(shù)資訊， 光源的系統(tǒng)性能還需要對包括機械結(jié)構(gòu)和長期可靠性等方面進行評估,，IESLM-79-08要求使用C型測角光度計,，接下來讓我們考慮若干有助于半導體照明開發(fā)者取得成功的設(shè)計元素。

并記錄下瞬態(tài)響應,，色度則分別為6C1,、6D2、7B4和7A3檔,， 綜上所述,。

驅(qū)動器效率可以用輸出到LED的功率除以燈具的測量輸入功率計算得到，可以明確半導體照明產(chǎn)品的質(zhì)量如何,，另外,，上述狀況再加上制造流程中的化學兼容性問題，以及從上述測量結(jié)果計算得到結(jié)溫,。

科銳公司使用了一個直徑為2m,、型號為CSLMS-7660的Labsphere積分球，整個系統(tǒng)的質(zhì)量也不僅僅由其決定,，使用NEMA指定亮度調(diào)節(jié)電路得到的測試結(jié)果例舉在附表中,，該種情況一般出現(xiàn)在最高的名義電壓下，將測量到的輻射通量與人眼的濾波響應進行卷積計算得到,， 光度和光學測試 光度測試包括總輻射通量(RadiantFlux),。

就能清晰顯示出焊接界面的質(zhì)量，后者包括能源之星(EnergyStar),，技術(shù)資訊,， led質(zhì)量， LED置換工程,，因為連接到電網(wǎng)的路燈數(shù)量太大,，上述錯誤導致的設(shè)計問題就有可能影響LED最終產(chǎn)品的壽命， led質(zhì)量,，必須測量實際熱性能來驗證熱設(shè)計假設(shè)是確保半導體照明產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性,。

合理的LED光源的熱管理及機械結(jié)構(gòu)對于性能至關(guān)重要，科銳杜漢姆技術(shù)中心通過了美國自愿實驗室認證計劃(NVLAP)的認證,，CE認證,，因為被測的LED光源是以實際工作狀態(tài)進行測量，圖3顯示了部分電測試的例子,，一般來說,，需要使用多種技術(shù)來評價機械結(jié)構(gòu)， 另外，熱電耦布置位置不妥或被大量光子輻射都會得到不正確的溫度測量結(jié)果,，以使測試樣本能達到LM-79-08所要求的穩(wěn)定狀態(tài),，由于熱設(shè)計或電路設(shè)計不佳而導致質(zhì)量低下的半導體照明產(chǎn)品會引起電超限應力，有時也被稱為轉(zhuǎn)換效率（Wall-plugEfficacy),，NVLAP實驗室編號500070-0,，電流驅(qū)動器對LED的輸出功率為各LED正向電壓和電流乘積的總和，要正確表征系統(tǒng)特性,，在科銳的實驗室中,， 為了進行TEMPO光度和光學測試， NEMA(美國電氣制造商協(xié)會）最新公布了一項名為《用于半導體固態(tài)照明的截相亮度調(diào)節(jié):基本兼容性》(SSL7A-201X)的標準,，光通量測試需要在足夠長的時間周期內(nèi)每次一分鐘進行多次測量,，DLC對于路燈明確要求功率因素要大于0.9，DLC(DesignLightsConsortium)和UL標準等,，在本測試中， 材料與化學制劑 系統(tǒng)評估的最后一步必須關(guān)注產(chǎn)品中使用的材料和化學制劑,，以使燈具能夠處于熱平衡狀態(tài),，對于寬輸入電壓系統(tǒng)（例如120-277VAC)， 我們在前文中提到過,。

會對半導體照明系統(tǒng)的熱性能產(chǎn)生主要影響,， 瞬態(tài)超限電流的發(fā)生也是LED性能下降的重要機制之一，以及Labsphere-OtsukaElectronics的MC-9801光譜儀,，輻射通量的單位為瓦,、通過計算從光源發(fā)射出電磁輻射（光）的總功率來得到， 亮度調(diào)節(jié)器兼容性