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LED技術(shù)資訊

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用R2R方式量產(chǎn)LED用模具

文章來源:恒光電器
發(fā)布時(shí)間:2014-04-14
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 用R2R方式量產(chǎn)LED用模具

  采用納米壓印技術(shù)的精細(xì)圖案形成技術(shù)對提高LED和有機(jī)EL等的發(fā)光效率也是有效的。東芝機(jī)械公司開發(fā)出了可將LED的發(fā)光效率提高20~30%的技術(shù),國內(nèi)資訊,其中包括專用的壓印裝置等(圖7)。據(jù)稱是利用在藍(lán)寶石基板表面形成凹凸圖案的“PSS”(Patterned Sapphire Substrate,圖形化藍(lán)寶石襯底),提高了反射率等,ROSH認(rèn)證,從而提高了發(fā)光輸出。

  

圖7:以低成本提高LED的發(fā)光效率

  圖為東芝機(jī)械開發(fā)的、提高LED發(fā)光效率的技術(shù)及其裝置(a~d)。利用納米壓印技術(shù)在生長GaN結(jié)晶的藍(lán)寶石基板上形成圖案,技術(shù)資訊,從而提高了反射率、減少了結(jié)晶缺陷等。LED的發(fā)光效率增加了20~30%。另外,通過卷對卷量產(chǎn)模具,還實(shí)現(xiàn)了低成本和高品質(zhì)。(攝影:東芝機(jī)械)

  存在的課題是如何減少模具的缺陷數(shù)量,以及如何使成本比用現(xiàn)有步進(jìn)器形成圖案時(shí)更具優(yōu)勢。“基板有缺陷,LED就不會發(fā)光。而為了降低成本而反復(fù)使用模具,缺陷就會越來越多”(東芝機(jī)械納米加工系統(tǒng)業(yè)務(wù)部副業(yè)務(wù)部長后藤博史)。

  該公司針對這兩個(gè)課題采取的對策是,裝修照明,把利用R2R方式大量復(fù)制的樹脂模具制成一次性產(chǎn)品。“把4英寸晶圓的成本降到5美元以下的目標(biāo)已有眉目”(后藤)。樹脂模具還有一個(gè)優(yōu)點(diǎn),那就是適合不一定平坦的藍(lán)寶石基板。

  實(shí)現(xiàn)高品質(zhì)GaN晶體

  最近還出現(xiàn)了利用納米壓印技術(shù)進(jìn)一步提高LED效率的可能性。古河機(jī)械金屬、金澤工業(yè)大學(xué)、東芝機(jī)械以及早稻田大學(xué)副教授水野潤的研究室利用納米壓印技術(shù)開發(fā)出了將GaN晶體的位錯(cuò)*降至大約原來的1%的方法(圖8)。

  

圖8:高品質(zhì)GaN晶體的制作也非常活躍

圖為早稻田大學(xué)水野潤研究室與古河機(jī)械金屬等以納米壓印技術(shù)為基礎(chǔ)制作的高品質(zhì)GaN晶體。通過用帶裂縫的SiO2層遮擋GaN的晶體生長,位錯(cuò)大幅降低。(攝影:早稻田大學(xué))

  *位錯(cuò):晶體中含有的線狀缺陷。此前,裝修照明,GaN晶體的位錯(cuò)密度高達(dá)1×109/cm2以上,被認(rèn)為是向LED流過大電流時(shí)導(dǎo)致發(fā)光效率降低的原因。

  具體方法是:首先在原來的GaN晶體上形成SiO2薄膜,利用納米壓印技術(shù)形成幾十nm寬的小口﹔然后再次生長GaN晶體。這樣,SiO2膜下方的GaN晶體的位錯(cuò)就不會到達(dá)上方的GaN晶體,LED-T5一體化燈管,由此能減少上方GaN晶體的位錯(cuò)。早稻田大學(xué)的水野教授介紹說,“我們試制了LED,國內(nèi)資訊,確認(rèn)該技術(shù)可提高輸出功率并延長壽命。應(yīng)該也能用於功率半導(dǎo)體”。

  水野表示,節(jié)能與環(huán)保綠色照明,該技術(shù)還有望降低LED的驅(qū)動電壓。“由於位錯(cuò)少,以前必須達(dá)到140μm厚度的GaN晶體可大幅減薄至21μm以下”。

  技術(shù)課題解決方面取得大幅進(jìn)展

  在半導(dǎo)體制造領(lǐng)域,LED-T5一體化燈管,納米壓印技術(shù)經(jīng)歷了漫長冬季后,也終於出現(xiàn)了實(shí)用化的可能性。以前,在成本和量產(chǎn)性方面,照明產(chǎn)品,該技術(shù)無法超越現(xiàn)有的光刻技術(shù)。不過,在分辨率為20nm以下的領(lǐng)域,需要EUV光刻等非常昂貴的技術(shù),因此納米壓印可能會實(shí)現(xiàn)逆轉(zhuǎn)。而且, LED置換工程,納米壓印技術(shù)自身在這3年左右的時(shí)間里也取得了大幅進(jìn)展(圖9)。

  

圖9:半導(dǎo)體領(lǐng)域的技術(shù)課題迅速解決

  圖為MII公司最近的技術(shù)改善情況。從2011年2月起的2年里, led質(zhì)量,量產(chǎn)時(shí)的缺陷密度大幅降低(a)。半間距為26nm的線圖案的成品率在10m長度時(shí)也提高到了90%以上(b)。(表和圖由MII公司提供)

  打算制造NAND閃存等的MII公司的納米壓印裝置用不到半年時(shí)間把2012年9月時(shí)為5個(gè)/cm2的復(fù)制模缺陷減到了3個(gè)/cm2。據(jù)向MII公司提供模具的大日本印刷介紹,“2014年2月減到了1.2個(gè)/cm2”。精細(xì)圖案的成品率也在這不到3年的時(shí)間里大幅提高。

  處理能力(吞吐量)低這個(gè)問題的解決方法也逐漸浮出水面。日本的產(chǎn)業(yè)技術(shù)綜合研究所、東北大學(xué)及兵庫縣立大學(xué)開發(fā)出了在容易凝縮的氟里昂替代物系氣體中壓印、抑制了氣泡缺陷的技術(shù)等(圖10)。該技術(shù)大幅提高了樹脂的涂敷速度,“1小時(shí)可壓印100塊晶圓,而且一個(gè)模具可使用2萬次”(產(chǎn)業(yè)技術(shù)綜合研究所集成微系統(tǒng)研究中心副研究中心長廣島洋)。與MII公司最近的技術(shù)相比,這相當(dāng)於其5~10倍的吞吐量。

  

 

圖10:生產(chǎn)效率有望大幅提高

圖為產(chǎn)業(yè)技術(shù)綜合研究所和東北大學(xué)等共同開發(fā)的利用凝縮氣體的光納米壓印法概要。通過在納米壓印時(shí)使用凝縮性氣體,氣泡會液化,因此不會出現(xiàn)缺陷(a,b)。MII公司的技術(shù)存在的一大課題——吞吐量方面,預(yù)計(jì)將達(dá)到原來的5倍以上(c)。(照片和表由產(chǎn)業(yè)技術(shù)綜合研究所提供)。

  在硬盤上的應(yīng)用將在2015年定勝負(fù)

  納米壓印技術(shù)在HDD硬盤上的應(yīng)用也出現(xiàn)了復(fù)蘇的跡象(圖11)。

  

圖11:HDD硬盤領(lǐng)域的應(yīng)用將在2015年定勝負(fù)

  關(guān)於納米壓印在硬盤領(lǐng)域的應(yīng)用,離散軌道方面基本沒有可能性了(a)。2015年有望亮相的位元規(guī)則介質(zhì)方面,HGST公司通過結(jié)合高分子自組織技術(shù)和納米壓印技術(shù),成功形成了直徑為10nm的點(diǎn)圖。(攝影:HGST公司)

 

  關(guān)於以前備受期待的在離散軌道*領(lǐng)域的應(yīng)用,該方式未能實(shí)現(xiàn)。而在位元規(guī)則介質(zhì)(Bit Patterned Media)*領(lǐng)域的應(yīng)用還存在可能性。HGST公司2013年宣布, led室內(nèi)照明,將結(jié)合納米壓印技術(shù)和自組織技術(shù)實(shí)現(xiàn)實(shí)用化。“2015年將是能否實(shí)現(xiàn)實(shí)用化的關(guān)鍵一年”(某納米壓印技術(shù)的研究人員)。

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